高低溫試驗(yàn)箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律的功能，主要針對(duì)產(chǎn)品及材料在溫度變化較快的環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，適用于電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫、低溫及高低溫漸變?cè)囼?yàn)，供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。那么如何利用該設(shè)備進(jìn)行樣品測(cè)試呢？
 

　　1.測(cè)試準(zhǔn)備階段：將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)空氣中，直至溫度穩(wěn)定。將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行對(duì)照，符合要求后直接放入試驗(yàn)箱。
 

　　2.進(jìn)行樣品測(cè)試：
 

　　(1)被測(cè)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，設(shè)置測(cè)試條件，使箱內(nèi)溫度升至相應(yīng)溫度，保持一段時(shí)間直至被測(cè)樣品到溫度穩(wěn)定，高溫測(cè)試時(shí)間以標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
 

　　(2)高溫測(cè)試結(jié)束后，在5分鐘內(nèi)將試樣移動(dòng)至箱內(nèi)，保持一段時(shí)間或直到試樣溫度穩(wěn)定為止，具體以測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
 

　　(3)低溫階段結(jié)束后，在5分鐘內(nèi)將樣品移動(dòng)至箱內(nèi)，保持一段時(shí)間或直到試樣溫度穩(wěn)定為止，具體以測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
 

　　(4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣品的大小和空間的大小，時(shí)間可能會(huì)稍有誤差。
 

　　3.測(cè)試結(jié)束分析：試樣從試驗(yàn)箱中取出后，應(yīng)在正常試驗(yàn)大氣條件下恢復(fù)，直至試樣溫度穩(wěn)定。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的損傷程度和其他方法評(píng)定檢查結(jié)果。
 

　　在使用過程中，可能會(huì)出現(xiàn)高溫、低溫溫度比較難穩(wěn)定，或者需要長(zhǎng)時(shí)間才能穩(wěn)定，那該怎么辦呢？
 

　　溫度容差是考慮到了測(cè)量的誤差、溫度的緩慢變化以及工作空間內(nèi)的溫度變化而確定的，但是為了維持相對(duì)濕度在規(guī)定的容差范圍內(nèi)，在任意時(shí)刻工作空間內(nèi)兩點(diǎn)之間的溫差要維持在一個(gè)較小的范圍內(nèi)，如果溫度差過大，濕度條件就達(dá)不到要求，為了維持規(guī)定的濕度，溫度短時(shí)間波動(dòng)度應(yīng)維持在0.5℃，試驗(yàn)樣品的溫度應(yīng)穩(wěn)定在3℃之間，通過以下方法實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定：
 

　　1、把試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱之后，將箱溫調(diào)至25℃，并保持到該試驗(yàn)樣品到溫度穩(wěn)定為止；
 

　　2、在把試驗(yàn)樣品放入箱內(nèi)之前，先把樣品放置在另一個(gè)箱子里。
 

　　以上這兩種讓試驗(yàn)箱很快穩(wěn)定的方法不論采用哪種，到溫度穩(wěn)定時(shí)間，其相對(duì)濕度要在規(guī)定的試驗(yàn)用的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下的限值內(nèi)，樣品在箱內(nèi)穩(wěn)定之后，箱內(nèi)的相對(duì)濕度應(yīng)升到不小于95%，環(huán)境溫度為25℃。
 

　　作為檢測(cè)設(shè)備，在使用高低溫試驗(yàn)箱的過程中往往會(huì)出現(xiàn)操作失誤，容易導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果出錯(cuò)。在使用本設(shè)備時(shí)，我們先要注意實(shí)際使用中的操作說明，忽視了幾點(diǎn)就可能危及環(huán)境試驗(yàn)的準(zhǔn)確性。測(cè)試過程中的一些小問題也不容忽視，正常情況下，試驗(yàn)室內(nèi)的工作狀態(tài)也看不到試驗(yàn)品的部位、形狀、特性等的變化，因此，在放置試驗(yàn)品時(shí)，應(yīng)多加注意其放置位置。以下是具體布置方案要點(diǎn)：
 

　　1、試驗(yàn)物品要放在試驗(yàn)箱中間。管道或貼箱壁不可遮擋(要求間隔的箱壁間隔至少5毫米)。
 

　　2、被測(cè)試的樣品并非獨(dú)立存在，而且在測(cè)試樣品之間存在多個(gè)空隙。
 

　　3、電子元件需外接電源時(shí)，請(qǐng)將線束插入檢查孔邊緣，不可繞線。